NIR系列激光光束光斑分析儀參數/圖片/應用/價格
光束光斑分析儀簡介
奧萊光電自主研發的光束光斑分析儀可實現激光光斑檢測及測試應用。為客戶提供定制光束質量分析一體化設計解決方案，并支持多應用開發。光束質量分析儀裝置一體化設計，配套衰減方案設計，支持實時曝光及增益調節。適用半導體激光器，固體激光器，光纖激光器，超快激光器，激光測距等領域。目前已作為成熟產品在市場推廣，性價比很高，得到大量客戶認同?，F公司研發部可根據客戶不同需求進行模塊化定制。
Beamfiler NIR系列光束光斑分析儀性能特點：
1.本系列產品具備高分辨率和小像素尺寸的特點，像素尺寸min可達1.85μm
2.可根據實際光斑大小，選擇不同型號的產品，max光斑尺寸可達10mm
3.光束分析裝置一體化設計，配套衰減方案設計
4.支持手動和自動實時曝光及增益調節
5.高性價比，可代替進口激光光束質量分析儀，實現激光光斑檢測及測試應用
Beamfiler NIR系列光束光斑分析儀典型應用：
1.需要對激光光斑形狀進行檢測得場合，如激光生產，維護以及激光應用;
2.光學器件質量檢查;
3.激光腔鏡調整;
4.外光路準直;
5.光纖對準耦合分析等。
Beamfiler NIR系列光束光斑分析儀產品型號：
| 相機型號 | 波長 | 像素（μm） | 分辨率 | 靶面尺寸（mm） | 光斑檢測大小 | |||
| Px | Py | Dx | Dy | MIN（μm） | MAX（mm） | |||
| BFN0105UK | 350nm-1100nm | 1.85 | 4000 | 3000 | 7.4 | 5.6 | 18.5 | 4.7 |
| BFN0204UD | 350nm-1100nm | 2.2 | 2592 | 1944 | 5.7 | 4.3 | 22.0 | 3.6 |
| BFN0205U | 350nm-1100nm | 2.4 | 3072 | 2048 | 7.4 | 4.9 | 24.0 | 4.2 |
| BFN0205GK | 350nm-1100nm | 2.4 | 3072 | 2048 | 7.4 | 4.9 | 24.0 | 4.2 |
| BFN0208UK | 350nm-1100nm | 2.4 | 5472 | 3648 | 13.1 | 8.8 | 24.0 | 7.4 |
| BFN0305U | 350nm-1100nm | 3.45 | 2048 | 1536 | 7.1 | 5.3 | 35.0 | 4.5 |
| BFN0307UK | 350nm-1100nm | 3.45 | 2448 | 2048 | 8.4 | 7.1 | 35.0 | 6.0 |
| *BFN0310UV | 350nm-1100nm | 3.45 | 4096 | 3000 | 14.1 | 10.4 | 35.0 | 10.4 |
| *BFN0423GK | 350nm-1100nm | 4.5 | 5120 | 5120 | 23 | 23 | 45 | 20 |
| BFN0511UV | 350nm-1100nm | 5.5 | 2048 | 2048 | 11.3 | 11.3 | 55.0 | 9.6 |
光束光斑分析儀產品特點：
1. 可選超寬光譜多波長系列產品，覆蓋紫外到長波紅外波長范圍。
2. 較寬的光斑直徑測量范圍：光斑直徑范圍可滿足目前市場大部分的光斑產品范圍，部分產品支持更小光斑拓展。
3. 光斑分析儀一體化設計，配套衰減方案設計：設備自帶吸收衰減裝置，測低功率的毫瓦級激光光斑，也可根據不同功率激光光斑測試需求，提供可選的衰減方案，無需準備其他配件即可快速測量。
4. 軟件自主開發，可提供底層通訊協議.
5. 高性價比，可代替進口激光光束質量分析儀，實現激光光斑檢測及測試應用.
光束光斑分析儀產品光譜覆蓋范圍：
需求定制：可為客戶定制不同需求的光斑分析儀，滿足不同的激光光束直徑和激光功率測試需求。
